Assessment of radiation exposure in dental cone-beam computerized tomography with the use of metal-oxide semicon-ductor field-effect transistor (MOSFET) dosimeters and Monte Carlo simulations
Koivisto J; Kiljunen T; Tapiovaara M; Wolff J; Kortesniemi M (2012)
Tätä artikkelia/julkaisua ei ole tallennettu Julkariin. Julkaisun tiedoissa voi kuitenkin olla linkki toisaalle tallennettuun artikkeliin/julkaisuun.
Koivisto J
Kiljunen T
Tapiovaara M
Wolff J
Kortesniemi M
2012
Oral Surgery, Oral Medicine, Oral Pathology and Oral Radiology 2012; 114 (3): 393–400. DOI:10.1016/j.oooo.2012.06.003